Test Techniques to Combat Tighter Design Margins

本文主要探讨了边限叠加（margin stack up）在电子制造行业中的重要性以及其在产品开发、测试设计、测试部署和测试操作等方面的影响。作者指出，随着电子设备消费者对性能、尺寸、能耗、可靠性和成本等方面的要求不断提高，电子设计和模拟工具的进步使得工程师能够实现突破性效能，但这也带来了边限叠加的问题。边限叠加是设计理论与实际功能之间差距扩大的主要原因，而测试是解决这个问题的关键。本文还介绍了测试系统校验方法，以便深入了解仪器的限制以及DUT（待测装置）和测试系统之间的交互链接。最后，本文概述了通过测试设计、测试仪设计、测试数据分析和测试支援将测试策略升级的技术。