本研究调查了半爱泼斯坦函数表示从峰值高度到 20,000 公里的电子密度分布的能力。范艾伦探针记录的电子密度观测被用于解决尺度高度依赖性在等离子层中。发现顶部电离层尺度高度的线性相关性不能直接用于推断800 km以上的剖面。我们发现,在等离子层中,尺度高度对高度的依赖性是二次的。标高的统计模型因此提出。通过统一模型将顶部电离层和等离子层结合起来后,与 2013 年、2014 年、2016 年和 2017 年的实际测量相比,我们不仅在剖面形状上,而且在总电子含量大小和分布方面都获得了很好的估计。