部分随机基准测试

本文分析了部分随机基准测试在量子逻辑门中的应用。部分旋转可以简化实现、提高准确性和可靠性。与标准随机基准测试不同，部分旋转的测量保真度衰减是指数的线性组合。本文研究了双量子比特门的最慢指数，发现其衰减率接近标准随机基准测试中的指数，但存在修正。此外，本文还分析了异常门的衰减率，并探讨了从测量曲线中提取其衰减率的可能性。部分随机基准测试具有更好的缩放比例和单一的整体度量，适用于评估和测量量子信息设备中的小门误差。虽然部分随机基准测试在当前实验技术中已经可以常规执行，但随着量子比特数量的增加，需要解决门编译的复杂性问题。本文的研究有助于更好地理解随机基准测试的保真度估计的准确性，并为未来量子基准分析提供支持。