本研究通过瞬态吸收测量揭示了锗孤对中心(GLPC)在高和弱锗掺杂二氧化硅中的光循环。GLPC是一种模型点缺陷,具有简单且易于理解的电子结构,与多种应用高度相关。实验以峰值为5.1 eV的紫外GLPC吸收带共振激发样品,使我们有可能在紫外可见范围内跟踪从飞皮秒到纳秒时间尺度的缺陷激发-弛豫动力学。此外,研究了瞬态吸收信号作为激发光子能量的函数,并在高和弱锗掺杂的石英玻璃上进行了比较实验。结果提供了GLPC弛豫动力学的全面图片,并允许观察缺陷上的电子跃迁与带隙跃迁相关的电子跃迁之间的相互作用,提供了明确的证据表明掺杂剂高浓度的作用在最早的动力学中是不可忽略的。