您的浏览器禁用了JavaScript(一种计算机语言,用以实现您与网页的交互),请解除该禁用,或者联系我们。 [西安交通大学&中科院微电子所]:不同n型电池片技术分析及未来趋势 - 发现报告

不同n型电池片技术分析及未来趋势

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不同n型电池片技术分析及未来趋势 贾锐 西安交通大学 中国科学院微电子研究所 N型高效晶体硅电池技术一当下及未来的产业主流 SolarCellEfficiencyTables(Version66) Martin A.Green'Ewan D.Dunlop |Masahiro Yoshita |Nikos Kopidakis|Karsten Bothes|Gerald SieferXiaojingHaolIJessicaYajieJiang ITRPV预测各种n型电池未来市场变化 >2025年,p型PERC的市场最多占18%,PRRC正加速退出市场;2025年,n型TOPCon占到整个市场的68%,未来还将是市场主流:>异质结电池,2024年市场占比约8%,2035年预计达到12%;》背接触BC电池(HBC、TBC,统称为XBC),2025年市场占比预计达到6%;但到2035年预计达到33%;Si基叠层电池(如果实现突破),产能预计在2029年达到3%:2035年预计达到12% TOPCon电池:LECO+均匀发射极占市场主导地位 LECO是n型TOPCon的标配采用LECO+均匀发射极占市场主导地位TOPConSE(无LECO)的很快退出市场 单晶硅衬底的复合电流:p型大于n型晶体硅3-4倍 n型晶体硅的复合电流一不同的电池类型复合电流区别较大 前表面Poly-fingerTOPCon:降低发射极复合电流的有效方式 Poly-fingerTOPCon:降低发射极复合电流的有效方式 Poly-fingerTOPCon:串联电阻Rs影响到填充因子 通过pFF测试,pFF值可达到86%以上;FF过低(81-82%),主要是由于Rs过大导致;是导致效率降低的主要因素; Poly-fingerTOPCon:PolyFinger+LECO,可有效提升FF PolyFinger通过LECO,可以提升FF 背面Poly-fingerTOPCon:保持钝化同时可提升短路电流 背面不同厚度的n+-Poly组合,形成背面n+-polyFinger >基准线的TOPCon电池Jsc平均值41.45mA/cm?;>多晶硅指状结构的Jso平均值为41.97mA/cm?;>比基准结构高0.52mA/cm?。 HJT:CO2等离子体处理,易于形成p型微晶硅 HJT:CO2等离子体处理,易于形成p型微晶硅 CO,等离子体进行界面处理,实现p+aSi微晶化 a-Siuc-Si:快速成核并结晶 >CO,PT时间,Voc从748mV上升到749mV,FF从80%增加到84%,Rs降低了三分之一,效率绝对值提升了1.4%μc-Si:H(p)层成膜晶化率提高至60%,使异质结电池成功实现了双面微晶化Source:文丽兰等,AcSAppl.Mater.Interfaces2025, XBC电池:效率超过27%--隆基创造多个冠军效率 TBC电池:激光图形化+湿法处理+金字塔表面纳米化 27.81%!LONGiRefreshestheWorldRecordfortheEfficiencyofMonocrystallineSiliconCellsAgain 全球单结晶体硅最高效率! HBC电池制程:采用激光进行图形化 隧穿层和光管理,对叠层电池起到很重要的作用! 钙钛矿/晶硅电池创造了新的效率最高记录 SolarCellEfficiencyTables(Version66) Martin A.Green IEwan D.Dunlop?IMasahiroYoshita3 INikos Kopidakis4|Karsten Bothes IGerald SieferXiaojingHao|JessicaYajieJiang